在包裝工業(yè)中,確保包裝系統(tǒng)的密封性對(duì)于保護(hù)內(nèi)容物的質(zhì)量和安全性至關(guān)重要。高壓放電試驗(yàn)法是一種高效、精確的密封性檢測(cè)方法,特別適用于液體內(nèi)容物的包裝系統(tǒng)。本文將介紹這一檢測(cè)方法,并引出三泉中石的高壓放電法密封性測(cè)試儀(LeaK-HV),以其先進(jìn)的技術(shù)滿足現(xiàn)代包裝檢測(cè)需求。
高壓放電試驗(yàn)法概述
高壓放電試驗(yàn)法通過(guò)應(yīng)用高壓電場(chǎng)來(lái)檢測(cè)包裝系統(tǒng)的密封性。該方法尤其適用于液體、不易燃且比包裝材料導(dǎo)電性更高的內(nèi)容物。具體要求如下:
包裝內(nèi)容物要求:
液體、不易燃,且具有比包裝材料更高的導(dǎo)電性。
在測(cè)試過(guò)程中,泄漏位置必須存在內(nèi)容物,以確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
包裝要求:
適用于無(wú)孔、剛性或具有約束機(jī)制的柔性包裝系統(tǒng)。
包裝系統(tǒng)需相對(duì)不導(dǎo)電,以免干擾檢測(cè)過(guò)程。
參考泄漏檢測(cè)限:
氣體泄漏率:范圍在1.4×10^-4 到 3.6×10^-3之間,根據(jù)產(chǎn)品包裝系統(tǒng)、檢測(cè)儀器及測(cè)試樣品的不同而有所變化。
泄漏孔徑:范圍為1.0到5.0。

三泉中石LeaK-HV高壓放電法密封性測(cè)試儀
為滿足現(xiàn)代包裝行業(yè)對(duì)高精度密封性檢測(cè)的需求,三泉中石推出了高壓放電法密封性測(cè)試儀(LeaK-HV)。這款設(shè)備具備了眾多優(yōu)勢(shì),使其成為行業(yè)中的領(lǐng)先選擇:
1.專利技術(shù)保障:
專利產(chǎn)品(專利號(hào)2021308568589),利用先進(jìn)的技術(shù)保證了設(shè)備的獨(dú)特性能和穩(wěn)定性。
2.高效的測(cè)試速度:
快速掃描:LeaK-HV能夠在幾秒鐘內(nèi)完成樣品掃描,大幅提升測(cè)試效率,適合快速生產(chǎn)線和高頻率檢測(cè)需求。
3.自動(dòng)化與準(zhǔn)確性:
無(wú)人工干預(yù):測(cè)試結(jié)果通過(guò)自動(dòng)化系統(tǒng)生成,無(wú)需人工判斷,減少了人為誤差,確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和客觀性。
4.適用多種包裝類型:
廣泛兼容:能夠檢測(cè)瓶裝、袋裝以及各種異形包裝的密封性,靈活適應(yīng)不同的包裝需求。
5.溫和的測(cè)試條件:
低電流測(cè)試:采用較低的測(cè)試電流,確保不會(huì)對(duì)藥品和包裝造成任何損傷,保護(hù)產(chǎn)品的完整性。
6.安全保護(hù)系統(tǒng):
三重保護(hù):設(shè)備配備安全、應(yīng)急和檢測(cè)門三重保護(hù)系統(tǒng),確保測(cè)試過(guò)程中的安全性,直觀可見。
7.法規(guī)合規(guī):
審計(jì)追蹤系統(tǒng):符合FDA 21CFR PART11電子記錄與電子簽名要求,提供全面的審計(jì)追蹤功能。
GMP數(shù)據(jù)存儲(chǔ):數(shù)據(jù)本地存儲(chǔ)、自動(dòng)處理及統(tǒng)計(jì)功能,并以不可修改刪除的格式導(dǎo)出,符合GMP要求,保證數(shù)據(jù)的長(zhǎng)期保存。
8.用戶友好界面:
直觀操作:采用Windows操作系統(tǒng),提供清晰的測(cè)試對(duì)比曲線和簡(jiǎn)便的操作界面,使測(cè)試過(guò)程直觀且易于操作。
結(jié)語(yǔ)
三泉中石的LeaK-HV高壓放電法密封性測(cè)試儀,憑借其先進(jìn)的專利技術(shù)、快速高效的測(cè)試能力和全方位的安全及合規(guī)保障,為包裝行業(yè)提供了一個(gè)卓越的密封性檢測(cè)解決方案。通過(guò)選擇LeaK-HV,企業(yè)不僅能夠提高測(cè)試效率,還能確保產(chǎn)品質(zhì)量,滿足市場(chǎng)對(duì)高標(biāo)準(zhǔn)包裝的嚴(yán)格要求。
地址:山東省濟(jì)南市市中區(qū)綠地泉景雅園商務(wù)大廈16層
電話:15665715386
郵箱:1684212232@qq.com